1.测试目的：评估晶体振荡器驱动电路的驱动能力，以确保晶体振荡器稳定振荡。

2.所需的设备可调稳压电源，示波器，可调电阻，万用表3.测试程序说明（1）参数计算a）为确保晶体振荡器稳定振荡，晶体振荡器的负阻抗（-R）为至少大于晶体振荡器阻抗的5倍，即| -R |。

＆lt; 5RLb）RL计算：RL ＝ R1 *（1 + C0 / CL）2其中R1：晶体振荡器的有效串联电阻（Effective SeriesResistance），可在晶体振荡器的数据表中查询； C0：晶体振荡器的并联电容，可在晶体振荡器的数据表中查询； CL：晶体振荡器的负载电容，CL = CT + CSCT =（Cg * Cd）/（Cg + Cd）CS：线路上分布的杂散电容，典型值为5pf； Cg和Cd如图1所示，通常在电路设计中取相同的值。

图1 RL计算（2）负阻抗测试的测试电路如下：图2负阻抗测试a）串联可调电阻R到晶体振荡器的输出端子（MCU芯片的EXTAL）； b）根据测试电路使用可调稳压电源板的电源需要为电路板供电。

将示波器探头连接至可调电阻器的引脚2（如图2所示，靠近MCU芯片的EXTAL端）以测试晶体振荡器的振荡波形，调节可调电阻器R以通过“开始振荡”来制造晶体振荡器。

停止振荡； c）当电路开始振荡以停止振荡时，请关闭可调稳压电源的输出，并用万用表测量R值； d）计算晶体振荡器的负阻抗| -R | = R + RL，RL是晶体振荡器的负载阻抗值。

4.测试合格标准晶体振荡器的负阻抗（-R）至少是晶体振荡器阻抗的5倍，即| -R |》 5RL5。

注意事项（1）在该测试中，可以先计算晶体振荡，然后计算器件的负载阻抗RL，然后根据RL的5倍的值选择具有合适电阻的可调电阻； （2）在测试过程中，似乎可调电阻R已被调到最大，此时R》》 5RL，但晶体振荡器仍然没有停止振荡。

此时，认为晶体振荡器可以稳定地振荡。

如果此时R值约为RL的n倍，则测试记录可以写| -R |。

》（n + 1）RL。